Nano Point Scanner
NPS

When microscopy meets metrology Nano Point Scanner

Découvrez le profilomètre sans contact nouvelle génération : Nano Point Scanner + Hirox RH-2000

NPS & Hirox: metrology meets microscopy

- Submicron Z Precision
- Ultra Fast Profiling
- ISO Certified Measurement
- Automatization & Reports

HIROX 3D Digital Microscopy

- High Resolution Image Quality
- Ultra Fast 3D Stacking
- Multiple Lighting Possibilities
- Full Flexibility: Sample & Stand

NPS & Hirox : La solution complète d'inspection et de mesure

Introducing the Nano Point Scanner

Confocal White Light Profilometry

The NPS Technology

The NPS is an innovative non-contact confocal 3D profilometer measuring altitude in real time, for profile or surface scanning:

  1. The white light LED beam is projected through a beamsplitter and a chromatic lens to the surface of the sample
  2. The reflected light beam from the sample is filtered in a confocal pinhole, isolating one single wavelength in perfect focus
  3. The NPS spectrometer is accurately translating this wavelength into height information and display it visually in the NPS software
  4. Up to 2000 height information per second are acquired in real time creating a profile when moving the XY stage

You can select between two modes: Profile or Surface

NPS Confocal White Light Sensor 

Fonctionne sur n'importe quel type de surface

Le système confocal génère un plan d’observation extrêmement fin. Les points situés au-dessus ou en-dessous de la surface de l’objet étant complètement hors champs, le type de matériau n’a pas d’importance : l’échantillon peut être réfléchissant, miroir, brillant, rugueux, opaque, et même complètement transparent.

Mesures Haute Précision - certifiée ISO

 

La technologie confocale chromatique à lumière blanche pour la mesure de la rugosité a obtenu la certification ISO. Cette technologie  est actuellement utilisée par plusieurs sociétés et centres de recherche à travers le monde. 

Le NPS permet de générer des mesures haute précision en X,Y et Z, bien au-delà des possibilités de la microscopie optique.

Profil haute vitesse (scan 1 axe)

En déplaçant l’échantillon grâce à la table XY motorisée haute précision sur un axe, le NPS acquiert une série de points selon un interval défini, créant rapidement un profil : on obtient en quelques secondes seulement des mesures d’altitude, de distance, de rayon, de rugosité linéaire (Ra, Rz, Rt,…) et bien plus encore !

Surface haute résolution (scan 2 axes)

En créant une série de profils alignés, le NPS acquiert des informations en X,Y et Z générant ainsi une surface 3D haute résolution : volume, rugosité de surface (Sa, Sz,…), forme complexe, ondulation 3D et bien plus encore.
La durée du scan dépendra du nombres de lignes,  de la vitesse d’acquisition choisie et des dimensions de l’échantillon.

Applications illimitées

  • Aérospatial
  • Horlogerie
  • Téléphonie mobile
  • Restauration d’art
  • Automobile
  • Semi-conducteur
  • Système d’affichage
  • Impression sécurisée
  • Lentilles optiques
  • Micro-électronique
  • Archéologie
  • Lames de rasoir

Possibilités de mesures multiples

En combinant les mesures hautes précisions avec un logiciel de métrologie très puissant, le NPS va répondre à toutes vos demandes en métrologie. 

PROFIL & MULTI PROFIL

Échantillon automobile

Les mesures de profil sont extrêmement rapides : après l’acquisition de plusieurs milliers de points en quelques secondes, le NPS va mesurer la distance en X et en Z entre deux points définis, ainsi que le max/min en Z et la rugosité Ra, Rz, Rt.

Cliquez sur le rapport prédéfini de votre choix dans le menu du logiciel NPS pour des mesures plus avancées avec Mountains Map.
Avec la nouvelle fonction programmable multi-profil, exécutez simplement plusieurs profils individuels combinés avec un seul rapport.

MESURE DE FORMES

Lentille optique

La surface et la géométrie peuvent être facilement mesurées : sur un objet sphérique, les résultats de mesure d’une courbure peuvent être comparés aux spécifications de la fabrication par exemple. D’autres formes comme des lignes, des plans, des sphères, des cylindres ou des formes libres sont des objets typiques que le NPS peut mesurer : longueur, altitude, rayon, angle, volume et plus encore.

Mesure d'une déformation PCB

Planéité, ondulation & coplanarité

Distorsion, déformation, ondulation ou planéité sont faciles à mesurer sur de larges zones avec le Nano Point Scanner. Grâce à la table XY pouvant aller jusquà 500x500mm, il est possible de mesurer les défauts qui peuvent apparaitre à cause d’une machine ou d’une anomalie de travail, d’un stress résiduel, de vibrations ou d’un traitement de chaleur par exemple.
La mesure de coplanarité requiert également de longues distances et un haut niveau de précision en Z. Elle est désormais possible grâce au scan d’un profil ou d’une surface.

Mesure de Mahr PRN-10 Rugosité Standard

Rugosité, texture & défauts

La métrologie de surface détermine la surface de la topographie, essentielle pour confirmer la pertinence d’une surface pour sa fonction. La mesure de surface inclut le profil de rugosité (Ra), la rugosité de surface (Sa), la texture de surface, l’aspérité et la caractérisation structurelle.
A des fins de fabrication et de design, la mesure est indispensable pour s’assurer que le matériel finalisé est conforme aux spécifications souhaitées.

  • Distances
  • Volume
  • Rugosité
  • Ondulation
  • Rondeur
  • Topographie
  • Planéité
  • Coplanarité
  • Déformation
  • Tribologie

Les capteurs NPS

Les capteurs adaptés à vos besoins

Le système NPS propose une large gamme de capteurs permettant de réaliser parfaitement tout type de mesures hautes précisions.
En fonction de votre application, vous pouvez sélectionner le ou les capteur(s) adapté(s) à vos besoins : plusieurs gammes de mesures, distances de travail, angles maximaux, rugosité ou mesure de forme.

Spécificités des capteurs NPS

CAPTEURS NPSNP1NP2NP3NP4NPX ***
Amplitude de mesure150 μm400 μm1400 μm4000 μm1000 μm
Distance de travail3.3 mm10.8 mm12 mm16.2 mm18.5 mm
Pente max de l'échantillon *42.5°28°25°21°44°
Résolution latérale1 μm1.8 μm2.6 μm4.6 μm4 μm
Précision en Z **20 nm45 nm150 nm300 nm100 nm
Convient pour la rugositéOKOKOK

* Inclinaison maximale de l’échantillon sur une surface miroire parfaite
** La mesure minimale en Z dépend de la table XY
*** Le NPX n’est pas compatible avec le deltashift sur la table 100mm x 100mm

Les avantages du NPS​​

Capteur NPX
Capteur NP4

L'interface du logiciel NPS : Rapide et facile

Un logiciel dédié pour avoir rapidement et facilement le meilleur de la technologie confocale chromatique à lumière blanche.

Profil ou Surface ?
Utilisez simplement l’optique haute résolution du RH-2000 pour faire la sélection des points d’intérêts (fonction deltashift) et laissez le NPS faire le reste : profil, multi profil ou surface en seulement quelques clics.

Scan rapide 
Sélectionnez la vitesse d’acquisition, les pas X et Y sont affichés, ainsi que la zone de scan : Commencez le scan.

Vue en temps réel
Vue du profil ou du scan affichée en temps réel durant le scan.

Niveau & Mesure
Pour des tests et des mesures rapides, utilisez la fonction automatique intégrée pour ajuster le niveau, puis mesurez l’altitude et les distances directement avec l’interface NPS.

XYZ & AutoFocus
Contrôle de vitesse : Affinez le mouvement XY motorisé Hirox.
Auto Focus : Place automatiquement votre capteur au centre de la plage de mesure en un clic.

Point d’intérêt
Set, Go and Save :
Une multitude de points d’intérêts peuvent facilement être utilisés pour le profil, le multi-profil ou les scans de surface.

Contrôle du capteur
Ajustez la fréquence et l’intensité de la lumière en fonction de la réflectivité de votre échantillon et de la vitesse d’acquisition souhaitée.

Mesure et rapport faciles avec l’Hirox Maps.
Personnalisez jusqu’à 4 modèles de profil ou de surface. Appliquez-les automatiquement à votre échantillon en un clic.

Créez votre premier rapport d’inspection et utilisez-le comme modèle pour vos échantillon similaires.

Numérisez automatiquement plusieurs échantillons avec un rapport pour chaque échantillon.

Obtenez des statistiques, moyennes et « passe /faute » de tous vos échantillons dans un seul fichier excel.

Hirox Maps - Logiciel avancé de métrologie

En combinant une mesure haute précision avec un logiciel de métrologie avancé, le NPS va répondre à toutes vos exigences en matière de métrologie.

Hirox Maps – la technologie Mountains !

La technologie Mountains Map 8 est la solution la plus avancée en matière de métrologie sur le marché : 

  • Imagerie en temps réel de la topographie de surface 3D
  • Superpositions de surface 3D pour une localisation rapide des éléments : couleur d’altitude + intensité des images du NPS combinées
  • Suppression des artéfacts de l’échantillon et/ou du scan
  • Extraction de zone, correction de niveau, correction de forme
  • Suite complète de mesures sur profils et surfaces 3D avec traçabilité des utilisateurs et des processus.

Simple & Puissant 

Alors que beaucoup de fonctions utilisent des calculs complexes, tout a été pensé ici pour rendre ces fonctions les plus simples possible. Une fois votre mesure effectuée, tous les paramètres de celle-ci peuvent être facilement appliqués à un nouvel échantillon avec une limite de tolérance affichée en vert/rouge.
Chaque rapport peut ensuite devenir un modèle de mesure pour un déroulement rapide et facile du travail avec les fonctions « passe / faute »

Affichage automatique de la tolérance : mesures d'angle sur un fil

ISO & Standards nationaux de métrologie

Mountains Map gère une base de plus de 10 000 licences installées dans le monde, est conforme avec les certifications ISO et les standards nationaux de métrologie, et fonctionne en 10 langues.

Suppression des formes et points non mesurés

Le logiciel NPS exporte toujours les données brutes non traitées, qui peuvent ensuite être filtrées dans Hirox Maps. Vous pouvez par exemple afficher ou remplir les points non mesurés, mais aussi supprimer les formes pour ne conserver que la surface.

Suppression de forme sur une balle de golf

Génération facile de rapport :

  • Intégration facile dans les environnements de laboratoires et de production
  • Exportation de tous les résultats numériques
  • Publication facile
  • Exportation des documents d’analyses, pages et images individuelles jusqu’à 1200 dpi.

Analyses automatiques

Des outils automatiques performants pour assurer une haute productivité : Les séries d’ensembles de données de surfaces peuvent être analysées automatiquement et les étapes des séquences d’analyses courantes peuvent être enregistrées pour insertion dans n’importe quel futur document d’analyse.
Les critères « passe / faute » peuvent être spécifiés pour tout paramètre et les voyants verts/ rouges sont affichés automatiquement.

Microscopie numérique hybride : NPS & RH-2000

Métrologie optique de surface 3D pour l’industrie et la recherche.

La combinaison parfaite entre excellence optique et métrologie sans contact :
Microscope numérique 3D HIROX RH-2000 3D avec le NPS – une solution universelle pour vos applications.

Optiques Hirox – Haute Résolution

La plus grande puissance optique
de 0,1x à 10.000x

Technologie à illmination multiple
BF / DF / POL / DIFF / UV,…

Tête rotative HIROX brevetée
Inspection motorisée à 360 °

Axe Z – Pas ultra fins

Axe Z motorisé
30 mm avec pas de 50 nm

Z manuel en complément
Axe Z manuel 80 mm

Stand flexible
Système compact, stand bridge ou portatif

Fonction Deltashift

Capteurs NPS – Haute précision

Large gamme de mesure
de 100µm à 24.000µm

Grande distance de travail
de 3mm à 25mm

Différents types de mesure
Forme, épaisseur, rugosité,…

Axes XY – Haute précision

Grandes plages de mouvement
De 40×40 mm à 500×500 mm

Table haute précision
Mouvement 110×75 mm

Moteur à pas XY très précis
à partir de 0,1 µm

Souris 3D Hirox :
– Facilité de déplacement XYZ
– Point de départ / Point de fin / Scan

     Exemple de stand Table XY 500×500 avec structure pont

Scans 3D haute précision

Recherche & Développement, Contrôle de Process & de Production, Laboratoire, et bien plus encore !

Tribologie

Le système NPS permet de révéler des formes complexes et d’usures sur des échantillons test en tribologie.

Lentille de Fresnel

Scan d’une structure complexe transparente

Contrôle d'état de surface

Mesures submicrométrique sur une surface métallique

Pierre d'Atacama

La pierre d’Atacama est un artéfact rare du fait de la structure complexe de sa surface. La mesure haute précision du NPS a aidé le Musée d’Histoire Naturelle de Madrid à mieux en visualiser la surface.

Scans 3D haute précision​

Acier

Ballon de basket

Impression en relief

Cuir

Douille de balle

Tête de rasoir électrique

Gravure sur une montre

Configuration du système

Choisissez le capteur NPS qui s’adapte à votre application.
Choisissez la lentille Hirox qui s’adapte à votre application.
Choisissez le stand qui s’adapte à votre application.

TABLE MOTORISEE XYAS-XY1175AS-XY1010AS-XY2010ST-J500+autres dimensions
Dimensions110 mm x 75 mm100 mm x 100 mm200 mm x 100 mm500 mm x 500 mmsur demande
Pas par impulsion0.05 μm0.1 μm0.1 μm0.2 μmsur demande
Précision1 μm1 μm1 μm4 μmsur demande
Vitesse5 mm/s10 mm/s10 mm/s10 mm/ssur demande
Bruit de vibration maximal en Z100 nm200 nm200 nm500 nmsur demande
Convient pour la rugositéOKOKOKsur demande
CAPTEURS NPSNP1NP2NP3NP4NPX ***
Amplitude de mesure150 μm400 μm1400 μm4000 μm1000 μm
Distance de travail3.3 mm10.8 mm12 mm16.2 mm18.5 mm
Pente max de l'échantillon *42.5°28°25°21°44°
Résolution latérale1 μm1.8 μm2.6 μm4.6 μm4 μm
Précision en Z **20 nm45 nm150 nm300 nm100 nm
Convient pour la rugositéOKOKOK

* Inclinaison maximale de l’échantillon sur une surface miroire parfaite
** La mesure minimale en Z dépend de la table XY
*** Le NPX n’est pas compatible avec le deltashift sur la table 100mm x 100mm

LOGICIEL 
Système d'exploitation :
Windows 7, Windows 8, Windows 10
Logiciel NPS : Sélection du capteur calibré, installation de la table XY, intensité de la lumière & fréquence de la numérisation, contrôle des mouvements XYZ.
Mode de profil : Acquisition et affichage en direct du profil, mesure d'altitude/de longueur, correction du niveau, multi-profil, export vers les modèles pré-définis Hirox Maps incluant : altitude, rugosité, courbure et défaut, sauvegarde et téléchargement des coordonnées XY, fonction deltashift.
Configuration PC minimale recommandée :
Processeur i5 6ème génération, 8GO RAM
Mode de surface : acquisition et affichage en direct du profil et de l'altitude, export dans des modèles pré-definis sur Hirox Maps
Hirox Map - Mountains : Traitement des fichiers NPS pour des mesures avancées incluant rugosité linéaire et rugosité de surface, volume, suppression des formes, tolérances avec affichage "passe/faute", traitement en masse, export en STL et autres fomats 3D, etc...
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